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综合测试仪
LIV60201综合测试仪支持DML、EML器件的各项参数测试以及曲线绘制
LIV综合测试仪支持DML器件的各项参数测试以及曲线绘制，兼容独立型和共阳型封装，支持连续电流扫描和脉冲电流扫描
LIV-C应用于插卡式主机设备，可与其他功能板卡组合使用，主要支持DML器件的参数测试
LIV-EML-C应用于插卡式主机设备，可与其他功能板卡组合使用，主要支持DML、EML器件的参数测试
RCML-LR探测器耦合测试仪主要用于PIN/APD器件的耦合生产与测试，支持器件回损测试，兼容多种封装，支持波形显示，耦合时实时监控PD相关参数
AIV-C应用于插卡式主机设备，可与其他功能板卡组合使用，主要支持PIN/APD器件的接收端工作及电参数测试
TEC-C1-C应用于插卡式主机设备，可与其他功能板卡组合使用，主要功能是进行温控
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