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CHIP TESTER

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 本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料,CHIP-ID自动识别记忆匹配测试,通过蓝膜顶针剥离机构,吸嘴吸取,机械手分别搬运到高温及常温测试区域,自动摆位,自动给电,收集发光参数,分析筛选,机械手搬运分档归类。此设备具有高速、高精度特点,实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了偏心凸轮驱动、连杆及精密夹具等机构,配合多轴运动、视觉定位、视觉字符匹配等技术,具有批量生产能力。

 

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