普赛斯Combo PON器件性能综合测试系统是模拟了Combo PON器件实际复杂的应用环境，自动快速测试Combo PON器件2发2收近40多种性能参数的测试系统。一键完成1490nm 2.5G DFB器件发射和1577nm 10G EML器件发射的LIV综合测试，1310nm和1270nm的APD器件或者PIN TIA器件的灵敏度和响应度测试，支持内部光路的隔离度和光串扰测试，全面评估Combo PON器件参数指标，真实反映器件的性能。整套系统方案还设计了配套的测试夹具。