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普赛斯EML器件老化测试系统用于EML器件的老化测试，过程监控，老化系统读取SOCKET板中器件的热敏电阻值，获取器件温度；读取电流、电压、背光电流和EA的功率，实现对32路器件的实时监控测试，提高EML器件的产品质量。
产品特点
1.支持单台设备携带32颗器件老化测试，可多台设备组网老化更多颗器件
2.模拟应用场景老化：模拟实际EML器件的调制方式，支持EA电压的AC调制老化；
3.实时监控：测试器件内部的热敏电阻Rth，实时反映器件内部温度，可间接反映老化箱温度
技术指标
| 项目 | 要求 | 备注 |
| 通道数 | 32 |
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| 监控方式 | 实时监控 |
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| 软件 | PC端，可提供DLL | 支持本地和远程数据库 |
| Chip | ||
| LD驱动电流 | 0~150mA | 0~50mA 精度0.2%±1mA 50~150mA 精度0.3%±1mA |
| LD电压保护 | <2.5V | <2.5V可调，精度0.3%±1mA |
| Mpd反相电压 | 0~-5V | 精度1%±50mV |
| Mpd电流监控 | 0~1uA 1uA~3mA | 分辨率1nA，精度0.3%±2nA 精度：精度0.2%±5uA |
| EA | ||
| Vea | -3V~2V | 可调，精度1%±50mV，AC模式1k-10kHz |
| 电流保护 | 80mA | 精度1.2%±1mA |
| TEC | ||
| Rth温度监控 |
| 实时测试电阻大小来计算温度 |
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