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LD失效分析仪适用于LD-TO、TOSA器件的长时间、大电流、高低温环境下的加速老化，实现对LD器件的可靠性与失效分析、预测器件使用寿命，规避隐形的重大质量事故，器件工作电流程序可控，不同电流、不同温度环境下的LD背光电流在不同时间点的实时检测，实时上报上位机或服务器，对器件可靠性、失效性进行分析。
产品特点
1、模拟模块工作模式老化：该设备可以设置成APC模式老化，模拟模块实际应用情况长期对器件进行恒功率老化，用于器件失效分析；
2、多种显示方式：支持脱离电脑主机的指示灯显示，数码管调节；也支持上位机软件显示；
3、器件防护：超严格的上下电时序设计，确保上下电过程不会对器件有软伤害；技术指标
| 名称 | 说明 |
| 单台工位 | 40只LD激光器 |
| 系统连接 | RS485，最大支持20台设备 |
| 组网方式 | RS485 |
| 供电方式 | APC&ACC，独立供电工作 |
| PD电压 | 0~5V，±1%+10mV |
| LD电压保护 | 当最大电流150mA时，LD两端电压不超过2V |
| LD监控电流 | 0~150mA，±1%+0.3mA，稳定性1% |
| PD监控电流 | 0~3000uA，±1%+20uA，稳定性1% |
| 数据采集 | 采集间隔1至240分钟。 注意：系统轮询时间依赖于设备总数 |
| 数据记录 | 满足持续老化5000小时的数据存储要求 |
| 异常日志 | 发生异常时记录时间 |
| 保护 | 加电、下电缓慢启动，不低于200ms时间 |
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