普赛斯电子推出全新的BOB TX/RX生产调试测试方案，该方案采用插卡组合系统，最大化减少设备占用空间，减少生产环节的复杂搭线，支持10G 1270/1577nm下的BOB产品调试测试，采用调试和校准差错进行，避免调试、测试的单固定通道带来的系统影响，8工位设计最大化提供生产的产能和效率。

BOB测试方案框图

方案特点

1. 支持8工位光猫并行、独立调测

2. 支持2.5GPON、10GPON调测

3. 支持消光比测试，无需眼图仪，高性价比

4. 支持调试和校准差错进行，避免调试、测试的单固定通道带来系统影响

5. 插卡式组合方案，集成度高，节约空间，维护成本低，适用大规模生产线

方案详情

单通道光路示意图

误码仪设备提供不同速率、码型的信号光源

光衰减器用于改变产品接收下行光源功率大小

消光比测试仪集成WDM将上行光和下行光进行分开，并将上行光进行分路，消光比测试并进行发射光功率检测

光开关将产品调试和测试光路进行交叉切换